{"id":2703,"date":"2019-10-22T06:39:31","date_gmt":"2019-10-22T06:39:31","guid":{"rendered":"http:\/\/protean.mekaoi.com\/bottom-and-top-inline-aoi-2\/"},"modified":"2025-04-04T14:00:19","modified_gmt":"2025-04-04T13:00:19","slug":"bottom-und-top-inline-aoi","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/marantz-electronics.com\/de\/bottom-und-top-inline-aoi\/","title":{"rendered":"Bottom und Top Inline AOI"},"content":{"rendered":"

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PowerSpector BTL
\nDoppelseitige AOI<\/h1>\n

Gleichzeitige AOI Inspektion von Platineober- und Unterseite<\/h4>\n

[\/vc_column_text][\/vc_column][vc_column width=“1\/2″][vc_single_image image=“10152″ img_size=“full“ alignment=“center“ el_class=“banner-img“][\/vc_column][\/vc_row][vc_row gap=“20″][vc_column width=“3\/4″ css=“.vc_custom_1660926096111{padding-right: 30px !important;}“][vc_column_text]Das doppelseitige AOI-System, Mek PowerSpector BTL, erm\u00f6glicht die Inspektion der Unter- und Oberseite von Leiterplatten nach dem Reflow-, Wellen- oder Selektivl\u00f6ten und der Platzierung von THT- und SMT-Bauteilen.<\/strong><\/p>\n

Mit bis zu 9 Kameras pro Seite (insgesamt 18) ist es f\u00fcr die Inspektion von Leiterplatten innerhalb von L\u00f6trahmen aus dem Schwerlastf\u00f6rdersystem ausgelegt, das f\u00fcr Baugruppen bis zu 5 kg mit einer maximalen Abmessung von bis zu 550×550 mm (21.6″) geeignet ist. Auch die Inspektion von Leiterplatten ohne L\u00f6trahmen ist m\u00f6glich. Der PowerSpector 350BTL ist f\u00fcr mittelgro\u00dfe Leiterplatten bis 350x250mm (13.8\u2033x9.8\u2033) ausgelegt.<\/p>\n

Bodeninspektion mit 9 Kameras<\/h4>\n

Der JTAz-basierte untere Seitenpr\u00fcfkopf hat einen Abstand von 30 mm zur Leiterplattenoberfl\u00e4che. Eine zus\u00e4tzliche Z-Achse erm\u00f6glicht eine Verstellung des Kopfes um 30 mm, was eine optimale Flexibilit\u00e4t bei der Inspektion innerhalb von L\u00f6trahmen und der korrekten Einstellung von Seitenkameras erm\u00f6glicht. Die 18,75u Aufl\u00f6sung der Hauptoptik und die 13u Aufl\u00f6sung der Seitenkameras bieten auch die M\u00f6glichkeit der 01005″ (0402mm) SMD-Inspektion einschlie\u00dflich der H\u00f6henverifikation von Objekten wie Stiften und Geh\u00e4usen sowie der 3D-Chiph\u00f6henmessung.<\/p>\n

Top-Inspektion mit 9 Kameras, 60mm Abstand und 30mm Z-Achse<\/h4>\n

Der JDAz-basierte Oberseiten-Inspektionskopf wurde speziell entwickelt, um einen massiven 60 mm oberen Abstand mit einer vollst\u00e4ndigen L\u00f6tstelleninspektion \u00fcber den 3D-Meniskus-Profiler zu kombinieren. Eine zus\u00e4tzliche 30 mm Z-Achse mit Autofokus-Option erm\u00f6glicht es Ihnen, sich auf die Oberseite gr\u00f6\u00dferer Komponenten zu konzentrieren. Die Seitenkameras mit einer Aufl\u00f6sung von 20u k\u00f6nnen zur Inspektion von Seitenmarkierungen an Bauteilen sowie zur \u00dcberpr\u00fcfung der genauen Best\u00fcckung mittels H\u00f6henverifizierung verwendet werden.[\/vc_column_text][vc_row_inner][vc_column_inner width=“1\/2″][vc_single_image image=“2385″ img_size=“large“][\/vc_column_inner][vc_column_inner width=“1\/2″][vc_single_image image=“2386″ img_size=“large“][\/vc_column_inner][\/vc_row_inner][vc_column_text]Der Mek PowerSpector BTL AOI ist vollst\u00e4ndig kompatibel mit der Mek EZPro Software<\/b><\/a>, die die Programmierung von AOI-Maschinen automatisiert und damit benutzerunabh\u00e4ngig und einfach macht.[\/vc_column_text][vc_btn title=“Mehr \u00fcber EZPro“ style=“flat“ align=“left“ i_align=“right“ i_icon_fontawesome=“fas fa-arrow-alt-circle-right“ add_icon=“true“ el_class=“mek-hme-btn“ link=“url:https%3A%2F%2Fmarantz-electronics.com%2Fde%2Faoi-programmierwerkzeug%2F|title:EZPro|target:_blank“][vc_column_text]<\/p>\n

Ber\u00fchrungslose Fehlerklassifizierung mit echten 3D 9-fachen mikroskopischen Ansichten<\/h4>\n

Fehleinsch\u00e4tzungen von gefundenen Defekten werden durch die True Image Defektanzeige von 9-Winkel simultanen mikroskopischen Ansichten jedes gefundenen Defekts minimiert.
\nTypischerweise sind die vorhandenen Defekte von 3D AOI in einem „synthetisierten 2D“-Bild mit synthetisierten H\u00f6heninformationen. Nur das Bild der Oberseite des Bauteils ist ein reales Bild und f\u00fcr ein genaues Urteil muss der Bediener die Leiterplatten manuell unter einem Mikroskop zur Klassifizierung\/Reparatur pr\u00fcfen.
\nMek minimiert das Risiko von Sch\u00e4den durch manuelle Prozesse, da die Fehlerbeurteilung aus der Ferne unter den 9 mikroskopischen Ansichten in der Klassifizierungs-\/Reparaturstation erfolgt, ohne dass die Leiterplatte physisch bearbeitet wird. Die konsistenten 9-Bild-Ergebnisse reduzieren die Bewertungsunterschiede zwischen den Anwendern im Vergleich zur manuellen Beurteilung mit Mikroskopen weiter.<\/p>\n

Diese mikroskopische Darstellung von Defekten gilt sowohl f\u00fcr die Ober- als auch f\u00fcr die Unterseite. Jeder Defekt wird mit einer Vergr\u00f6\u00dferung von bis zu 50x (bottom up) oder 30x (top down) angezeigt.\u00a0 Dies minimiert das Bedienpersonal und reduziert den Zeitaufwand f\u00fcr die Nachklassifizierung von Defekten mit station\u00e4ren Mikroskopen. Da alle Bilder in der Mek’s Catch SQL-Datenbank gespeichert werden k\u00f6nnen, kann eine \u00dcberpr\u00fcfung oder Klassifizierung jederzeit nach der eigentlichen Inspektion durchgef\u00fchrt werden. F\u00fcr ein vollst\u00e4ndiges Tracking und Tracing mit Ihrem eigenen MES-System bietet das Catch-System Schnittstellen \u00fcber seine offene SQL-Datenbank oder XML-Ausgaben.<\/p>\n

Das Prozessleitsystem von Mek, das Catch System<\/a>, kann mehrere Mek AOI-Maschinen zu einem vollst\u00e4ndig geschlossenen Prozess\u00fcberwachungs- und Qualit\u00e4tssicherungssystem vernetzen, das speziell f\u00fcr den Workflow und die interne Organisation jedes Benutzers optimiert ist.<\/p>\n

Patentiertes Synchronisationssystem f\u00fcr Boden und Decke<\/h4>\n

F\u00fcr die gleichzeitige Inspektion von unten und oben erm\u00f6glicht ein patentiertes Lichtsynchronisationsverfahren, dass beide K\u00f6pfe die Leiterplatte gleichzeitig pr\u00fcfen k\u00f6nnen, um schnellste Inspektionszeiten zu erreichen, ohne dass das Hochleistungsbeleuchtungssystem jedes Kopfes die andere Inspektion beeintr\u00e4chtigt.[\/vc_column_text][\/vc_column][vc_column width=“1\/4″ css=“.vc_custom_1660909564312{border-left-width: 10px !important;border-left-color: #000000 !important;border-radius: 1px !important;}“][vc_column_text css=““ el_class=“side-head“]<\/p>\n

\"\"ROI-Rechner<\/h3>\n

[\/vc_column_text][vc_column_text css=““]Berechnen Sie den ROI Ihrer AOI-Investition in Sekunden. Sehen Sie, wie schnell sich die Investition rentiert und ob sie f\u00fcr Ihr Unternehmen geeignet ist.[\/vc_column_text][vc_btn title=“Jetzt Berechnen“ style=“flat“ align=“center“ css=““ el_class=“mek-hme-btn“ link=“url:%2Faoi-calculator%2F|title:AOI%20ROI%20Calculator|target:_blank“][vc_separator][vc_column_text el_class=“side-head“]<\/p>\n

\"\"Herunterladen<\/h3>\n

[\/vc_column_text][vc_column_text css=““ el_class=“side-head“]Doppelseitige AOI – PowerSpector BTL Brosch\u00fcre<\/a>[\/vc_column_text][vc_btn title=“Brosch\u00fcre herunterladen“ style=“flat“ align=“center“ css=““ el_class=“mek-hme-btn“ link=“url:%2Fwp-content%2Fuploads%2FPowerSpector-Inline-BTL-Brochure.pdf|title:Inline%20Bottom%20%26%20Top%20AOI%20brochure|target:_blank“][vc_separator][vc_column_text css=““ el_class=“side-head“]<\/p>\n

\"\"Aktuelles<\/h3>\n

Lesen Sie die neuesten Nachrichten in unserem Blog: Inspection Matters[\/vc_column_text][vc_btn title=“Blog lesen“ style=“flat“ align=“center“ css=““ el_class=“mek-hme-btn“ link=“url:%2Fde%2Fblog%2F|title:Mek%20blog|target:_blank“][\/vc_column][\/vc_row][vc_row][vc_column][vc_empty_space][vc_separator][vc_column_text el_class=“center big-heading“]<\/p>\n

Wenn Sie Hilfe bei der Entscheidung f\u00fcr die richtige AOI-L\u00f6sung ben\u00f6tigen<\/h4>\n

[\/vc_column_text][vc_btn title=“Kontaktieren Sie uns“ style=“flat“ align=“center“ i_align=“right“ i_icon_fontawesome=“fas fa-arrow-alt-circle-right“ add_icon=“true“ el_class=“mek-hme-btn“ link=“url:https%3A%2F%2Fmarantz-electronics.com%2Fde%2Fkontakt%2F|title:Kontaktieren%20Sie%20uns“][\/vc_column][\/vc_row]<\/p>\n<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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