In der Elektronikindustrie spielen die statistische Prozesskontrolle (SPC) und die Rückverfolgbarkeit eine entscheidende Rolle bei der Gewährleistung von Produktqualität, Zuverlässigkeit und Konformität.

• Durch statistische Analysen können Sie Abweichungen und Fehler proaktiv erkennen und abmildern.
• Sammeln und analysieren Sie Echtzeitdaten, um Trends zu erkennen und Korrekturmaßnahmen zu implementieren.
• Aufrechterhaltung einer gleichbleibenden Produktqualität und Reduzierung des Fehlerrisikos.
• Umfassende Aufzeichnungen über den gesamten Produktionsprozess.
• Schnelles Aufspüren und Isolieren von Problemen oder Defekten.
• Erleichterung von Rückrufaktionen oder Reparaturen, falls erforderlich.
• Minimierung der mit Nacharbeiten oder Rückrufen verbundenen Kosten.
• Aufbau von Vertrauen bei den Kunden durch Gewährleistung von Produktzuverlässigkeit und Rückverfolgbarkeit.

Das Catch System

Das Prozessleitsystem von Mek, das Catch System, kann mehrere Mek AOI-Maschinen zu einem vollständig geschlossenen Prozessüberwachungs- und Qualitätssicherungssystem vernetzen, das speziell für den Workflow und die interne Organisation jedes Benutzers optimiert ist.

Das Mek Catch Process Control System bietet den besonderen Vorteil der Nutzung einer besonders wettbewerbsfähigen Open-Source-SQL-Datenbank, die in der Lage ist, große Datenmengen, mehrere Benutzer und zahlreiche Maschinen zu verwalten. Zusätzlich zum SQL-basierten Netzwerk-Kontrollzentrumsmodul umfasst das Catch-System drei zusätzliche Module, die jeweils eine bestimmte Komponente des Workflows verwalten und sich mit dem physischen und administrativen Layout der Fabrik verbinden: CS Repair für die Fehlerklassifizierung und -behebung, CS Watch für die Prozessüberwachung und CS Analyzer für die Chargen-SPC und -analyse.

CS Center (Datenmanagement)

CS Center ist der Kern des Catch Systems und ist verantwortlich für die Datenerfassung von einer oder mehreren Mek AOI / SPI Inspektionsmaschinen. CS Center speichert die Daten in einer unternehmensweiten Datenbank PostgreSQL. Es kann XML-Ausgaben für Datenmanagementlösungen von Drittanbietern generieren und kann auch als Fernsteuerung verwendet werden, um alle Mek-Inspektionssysteme von einem Standort aus zu steuern.

CS-Repair (Fehlerklassifizierung & Reparatur)

CS Repair ist der Teil des Catch-Systems, der für die Nachklassifizierung, Bestätigung und Reparatur von Mängeln verwendet wird. Es liest und schreibt von und in die unternehmensweite Datenbank PostgreSQL, die von CS Center gefüllt wurde, so dass es immer den aktuellen Status jedes inspizierten Punktes gibt. CS Repair kann XML-Ausgaben für Datenverwaltungslösungen von Drittanbietern generieren. Es verarbeitet vollständig Barcode (Panel und PCB) und Rack-Setups.

CS Watch (Prozessüberwachung)

CS Watch ist der Echtzeit-Monitor der laufenden Produktion. CS Watch liest aus der unternehmensweiten Datenbank PostgreSQL mit dem Ziel, wertvolle Inspektionsstatistiken zu liefern, die im Handumdrehen gelesen werden können. Alle Daten, wie z.B. tatsächliche First-Pass-Ausbeute, Defekte, Fehldefekten, Schichtanalyse etc. werden in leicht lesbaren Zahlen oder Pareto-Diagrammen dargestellt. CS Watch kann stufenlos installiert werden, so dass von praktisch jedem Computer im Werk aus auf die Daten zugegriffen werden kann.

CS Analyzer (Batch SPC & Analyse)

CS Analyzer ist der Teil des Catch-Systems, der für die statistische Prozesskontrolle (SPC) und die Track-n-Trace von inspizierten Produkten verwendet wird. Es ist eine Komplettlösung zur Analyse von Defekten, Ausbeuten und Reparaturen pro Charge, Auftrag, Produkt, Teil, etc. Mit der umfangreichen Drill-Down-Analyse der Daten können Ursachen ermittelt werden, die verhindern, dass in Zukunft Fehler auftreten. Es generiert voreingestellte und vollständig anpassbare Berichte über alle Parameter.

Catch beinhaltet auch die Option, sich an das Mek PowerSpector S2 Lotpasteninspektionssystem (SPI) anzuschließen, so dass der Benutzer feststellen kann, ob die Lötstellenfehler direkt mit Lötstellenproblemen verknüpft werden können. Durch die Verknüpfung von Barcodes können die Ergebnisse verglichen werden.